超音波厚さ計
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超音波厚さ計（ちょうおんぱあつさけい）とは、超音波を利用して対象物の厚みを測定する計測機器である。
超音波厚さ計は、探触子（プローブまたはトランスデューサー）と呼ばれる超音波受発信機能を持ったセンサーを用いて測定を行う非破壊検査計測装置。
探触子を測定物に接触させ、超音波を測定物に送信、測定物の裏面に反射して戻ってくる超音波を探触子で受信し、その伝播時間から測定物の厚さを算出する。
測定物の厚さの算出式
（D:厚み C:音速 t:伝播時間）
高精度、高分解能の超音波厚さ計では500キロヘルツ〜20メガヘルツ程度の超音波が使われる。
測定方式
超音波の伝播時間を元に厚さの計測を行う。代表的な方式は以下の3つである。
- 零点・第一回底面エコー方式 内部で設定した零点と、第一回底面エコーの伝播時間差から厚みを計測。
- 多重エコー方式 各エコー間の伝播時間差から厚みを計測。
- 表面エコー・第一回底面エコー方式 表面エコーと第一回底面エコーの伝播時間差から、厚みを計測。