Resonancia de plasmón de superficie multiparamétrica
La resonancia de plasmón de superficie multiparamétrica (MP-SPR) se basa en la resonancia de plasmón de superficie (SPR), un método establecido sin etiquetas en tiempo real para el análisis de interacción biomolecular, pero utiliza una configuración óptica diferente, una configuración de SPR goniométrica. Si bien MP-SPR proporciona la misma información cinética que SPR, también proporciona información estructural. Por lo tanto, MP-SPR mide tanto las interacciones de la superficie como las propiedades de la nanocapa.
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La resonancia de plasmón de superficie multiparamétrica (MP-SPR) se basa en la resonancia de plasmón de superficie (SPR), un método establecido sin etiquetas en tiempo real para el análisis de interacción biomolecular, pero utiliza una configuración óptica diferente, una configuración de SPR goniométrica. Si bien MP-SPR proporciona la misma información cinética que SPR (constante de equilibrio, constante de disociación, constante de asociación), también proporciona información estructural (índice de refracción, espesor de capa). Por lo tanto, MP-SPR mide tanto las interacciones de la superficie como las propiedades de la nanocapa.[1]
El método goniométrico SPR fue investigado junto con configuraciones de haz enfocado SPR y Otto en el Centro de Investigación Técnica VTT de Finlandia desde la década de 1980 por el Dr. Janusz Sadowski.[2] La óptica goniométrica SPR fue comercializada por Biofons Oy para su uso en aplicaciones en el punto de atención. La introducción de longitudes de onda láser de medición adicionales y los primeros análisis de película delgada se realizaron en 2011, dando paso al método MP-SPR.
Principio
La configuración óptica MP-SPR mide en múltiples longitudes de onda simultáneamente (de manera similar a la SPR espectroscópica), pero en lugar de medir en un ángulo fijo, más bien escanea en un amplio rango de ángulos θ (por ejemplo, 40°). Esto da como resultado mediciones de curvas SPR completas en múltiples longitudes de onda que proporcionan información adicional sobre la estructura y la conformación dinámica de la película.[3]
