Interféromètre de Fizeau

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Schéma d'un interféromètre de Fizeau
Schéma d'un interféromètre de Fizeau

L'interféromètre de Fizeau est un montage optique d'interférométrie à division d'amplitude, proposé en 1862 par le physicien français Hippolyte Fizeau[1], dans lequel deux surfaces partiellement réflectrices sont placées face à face et éclairées par un faisceau de lumière cohérente[2]. La lumière réfléchie par la face arrière du premier réflecteur, transparent, est combinée à la lumière réfléchie par la face avant du second. Les deux ondes réfléchies interfèrent entre elles pour créer des franges d'interférence, par exemple sur un écran de projection conjugué optiquement aux réflecteurs. Ces franges, dites "d'égale épaisseur", sont analogues à des lignes de niveau sur une carte topographique et permettent de cartographier avec une grande précision les variations de la distance entre les deux surfaces réflectrices.

Il ne faut pas confondre l'interféromètre de Fizeau avec les différentes expériences de Fizeau destinées à la mesure de la vitesse de la lumière, ou à la méthode de Fizeau (moyen de séparer deux sources lumineuses ponctuelles proches par interférométrie). L'interféromètre développé spécifiquement par Fizeau pour étudier la vitesse de la lumière dans les milieux en mouvement est présenté en fin d'article.

Les interféromètres de Fizeau sont communément utilisés pour la mesure des surfaces optiques de précision, par exemple au cours de leur fabrication.

  • Le plus souvent, la surface d'une lentille ou un miroir en cours de fabrication est comparée à une pièce de référence possédant la forme désirée (plan ou sphère dit « étalon », de grande qualité). La pièce de référence transparente est placée par-dessus l'optique testée, séparée de celle-ci par un support de faible épaisseur et d'orientation réglable. Les faisceaux réfléchis par le plan étalon et la surface à contrôler sont superposés de manière à interférer. L'étalon présente un léger biseau (un angle d'une fraction de degré est suffisant) de manière que la lumière réfléchie par sa face supérieure imparfaite ne produise pas d'interférences supplémentaires dans la figure obtenue. Les franges d'interférence caractérisent alors une épaisseur donnée d'air entre la surface à contrôler et la surface étalon (cf. section Calcul des interférences), donc le défaut de la surface.
  • Lors de la fabrication d'une lame à faces parallèles, on peut aussi observer les interférences entre les réflexions de chacune des deux faces, afin de vérifier le bon parallélisme de celles-ci. Les franges permettent de remonter dans ce cas aux variations de l'épaisseur totale de la lame.

Dans les deux cas, les échantillons sont illuminés par un faisceau provenant d'une source monochromatique, telle qu'une lampe spectrale ou un laser. En 1862, Fizeau développe pour l'occasion la première lampe à vapeur de sodium. Une lame semi-réfléchissante et des optiques de projection permettent la récupération de la lumière réfléchie et la visualisation des franges.

Calcul des interférences

Schéma des franges obtenues à l'intersection entre la surface contrôlée et les plans de différence de marche constante.
Schéma des franges obtenues à l'intersection entre la surface contrôlée et les plans de différence de marche constante.

Avec E0 l'éclairement supposé uniforme de l'onde incidente, E1 = R1 E0 celui de l'onde réfléchie par l'étalon, et E2 = (1-R1) R2 E0 celui l'onde réfléchie par la surface à contrôler, l'éclairement E sur l'écran où l'on projette la figure d'interférence est de la forme :

avec λ la longueur d'onde et Δ(x,y) la différence de marche entre les deux ondes au point (x,y) d'incidence sur la surface, qui s'écrit :

On remarque que le contraste (ou taux de modulation) des franges d'interférences est maximal lorsque E1 = E2, donc lorsque les réflectivités R1 et R2 des deux surfaces sont équivalentes.

On peut déduire de ces deux équations que les franges sont analogues à des lignes de niveau (d'égale épaisseur entre la surface et l'étalon, quelle que soit la forme de ce dernier), et que l'incrément d'"altitude" séparant chaque frange de la suivante vaut λ/2 (ou λ/2n si le milieu ambiant n'est pas l'air, avec n l'indice de celui-ci). Si la longueur d'onde est du domaine visible (~500 nm), on comprend que l'on pourra visualiser le défaut de surface avec une précision de l'ordre du dixième de micron.

A noter que pour une figure d'interférence statique, on ne peut deviner le sens de l'incrément entre chaque frange, et donc reconstituer le défaut de la surface. Toutefois, en décalant légèrement l'étalon (en diminuant l'épaisseur d'air e par exemple par appui sur le support), on peut faire défiler les franges, celles-ci demeurant à différence de marche constante par rapport à l'étalon (elles vont, si l'on diminue e, se déplacer vers les δe croissants sur la figure).

Interféromètres modernes et mesure par décalage de phase

Interféromètre de Fizeau numérique (marque ZYGO).
Interféromètre de Fizeau numérique (marque ZYGO).
Test du miroir de 17 pouces (403 mm de diamètre) de l'observatoire de Cambridge sur un grand interféromètre de Fizeau (chez Grubb Parsons au début du XXe siècle).
Test du miroir de 17 pouces (403 mm de diamètre) de l'observatoire de Cambridge sur un grand interféromètre de Fizeau (chez Grubb Parsons au début du XXe siècle).

De nos jours, les interféromètres de Fizeau sont commercialisés sous la forme d'instruments intégrés et informatisés[3].

  • Ils emploient une source laser de grande longueur de cohérence (typiquement un laser He-Ne) qui dispense de limiter l'épaisseur entre l'étalon et la surface mesurée à quelques millimètres comme devait le faire Fizeau.
  • La méthode de mesure numérique, par décalage de phase[4],[5], est basée sur le déplacement sub-longueur d'onde de l'étalon et le traitement des figures d'interférence obtenues après chaque déplacement. Elle permet la mesure des défauts de surface au nanomètre près.

Ces instruments ont permis l'avènement de l'optique de précision moderne, capable désormais de produire des miroirs ou lentilles de grande qualité à la chaîne, ou pour les télescopes des optiques de plusieurs mètres (voir ci-contre l'image obtenue sur le télescope de Cambridge au début du vingtième siècle) avec des défauts de surface de l'ordre du nanomètre.

Expérience interférométrique de Fizeau sur la vitesse de la lumière dans les milieux en mouvement

Références

Voir aussi

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