Microscopie SEEC
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La microscopie SEEC (Surface Enhanced Ellipsometric Contrast) est une technique de microscopie optique haute résolution développée par 2 chercheurs français, D. Ausserré et M.P. Valignat[1] au début des années 2000. Cette technologie combine deux innovations majeures, des surfaces spécifiques dédiées ayant des propriétés optiques spécifiques (SEEC sensors) ainsi qu'un algorithme permettant l'analyse directe et en temps-réel de la topographie et de l'épaisseur de n'importe quel échantillon (Q-SEEC).
Voici les principales fonctionnalités de la microscopie SEEC :
- Imagerie nanométrique sans marquage et en temps-réel ;
- Haute sensibilité et très haute résolution axiale ;
- Analyse morphologique et topographique de l'échantillon en 3D et en 4D ;
- Suivi de l'interaction en multiplexe ;
- Analyses possibles en de multiples milieux (eau, gaz, air).
